半導(dǎo)體器件（HAST）強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)方法
文章來源：http://m.ynbz888.cn/news/hybk/1912.html 發(fā)表時(shí)間：2022-11-14
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強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)(HAST)的方法，用于評(píng)價(jià)非密封封裝半導(dǎo)體器件在潮濕環(huán)境下的可靠性。2.強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕度和熱量測(cè)試(HAST)通常，強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕度和熱量測(cè)試通過施加苛刻的溫度、濕度和偏置條件，加速水分透過外部保護(hù)材料(灌封或密封)或外部保護(hù)材料與金屬導(dǎo)體之間的界面。這種測(cè)試應(yīng)力導(dǎo)致的失效機(jī)理通常與“85/85”穩(wěn)態(tài)溫度和濕度偏移壽命測(cè)試相同(見IEC 60749-5)。試驗(yàn)方法可從85℃/85% RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)或本試驗(yàn)方法中選擇。當(dāng)采用這兩種試驗(yàn)方法時(shí)，85℃/85%RH下的穩(wěn)態(tài)壽命試驗(yàn)結(jié)果優(yōu)于強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)(HAST)的結(jié)果。這種測(cè)試方法應(yīng)視為破壞性測(cè)試。3.測(cè)試設(shè)備的測(cè)試需要一個(gè)能持續(xù)保持規(guī)定溫度和相對(duì)濕度的壓力容器，HAST試驗(yàn)箱(制造商-東莞瑞凱環(huán)境測(cè)試儀器有限公司)。同時(shí)，提供電氣連接，并在測(cè)試期間將指定的偏置條件應(yīng)用于器件。3.1 HAST試驗(yàn)箱介紹瑞凱儀器的HAST設(shè)備用于評(píng)估濕度環(huán)境下非氣密封裝的IC器件和金屬材料的可靠性。它可用于在溫度、濕度和大氣壓條件下加速水分的滲透。它可以通過外部保護(hù)材料(塑料密封材料或密封件)或外部保護(hù)材料與金屬導(dǎo)電材料之間的界面。它采用嚴(yán)格的溫度、濕度、大氣壓和電壓條件，加速滲入材料中的水與金屬導(dǎo)體之間的電化學(xué)反應(yīng)。失效機(jī)理:電離腐蝕、封裝密封。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1.偏置終端數(shù)量可定制，提供產(chǎn)品加電測(cè)試，通過計(jì)算機(jī)安全便捷的遠(yuǎn)程訪問多級(jí)有感數(shù)據(jù)，方便程序錄入、測(cè)試設(shè)置和產(chǎn)品監(jiān)控。測(cè)試數(shù)據(jù)可導(dǎo)出為Excel格式，通過USB接口傳輸，可提供130℃溫度、85%RH濕度、230KPa大氣壓的測(cè)試條件。
2.受控條件。HAST試驗(yàn)箱應(yīng)能在升至指定試驗(yàn)環(huán)境和從指定試驗(yàn)環(huán)境下降的過程中提供受控的壓力、溫度和相對(duì)濕度條件。
3.溫度分布建議記錄每個(gè)試驗(yàn)循環(huán)的溫度分布，以便驗(yàn)證應(yīng)力的有效性。
4.受試設(shè)備受試設(shè)備的安裝方式應(yīng)使溫度梯度小。被測(cè)器件應(yīng)放置在盒內(nèi)，距離盒內(nèi)表面至少3厘米，且不應(yīng)受到發(fā)熱體的直接輻射。已安裝設(shè)備的安裝板對(duì)蒸汽循環(huán)的干擾應(yīng)小。
5.盡量減少污染物的排放。應(yīng)仔細(xì)選擇安裝板和插座的材料，以大限度地減少污染物的釋放以及腐蝕和其他機(jī)制導(dǎo)致的退化。
6.離子污染HAST試驗(yàn)箱的離子污染(插排柜、測(cè)試板、插座、接線存放容器等。)應(yīng)加以控制，以避免污染測(cè)試樣品。
7.應(yīng)使用室溫下小電阻率為1x 104ω. m的去離子水。
8.測(cè)試條件測(cè)試條件包括溫度、相對(duì)濕度和施加于器件的特定偏壓持續(xù)時(shí)間。
偏置標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)以下標(biāo)準(zhǔn)施加偏置:
a)小功耗；
b)盡可能交替地施加終端偏壓；
c)芯片上相鄰金屬化線之間的電壓差盡可能高；
d)工作范圍內(nèi)的高電壓；注意:。上述標(biāo)準(zhǔn)的優(yōu)先級(jí)應(yīng)基于結(jié)構(gòu)和具體的器件性能。
e)可以使用兩種偏倚中的任一一種來滿足上述標(biāo)準(zhǔn)，并且選擇嚴(yán)重性更高的一種。
