冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備的應(yīng)用
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冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備的應(yīng)用用途: 冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備適用于工業(yè),航空工業(yè),軍事工業(yè),自動(dòng)化組件,汽車零件,電子電器 儀表組件,電氣產(chǎn)品,塑料,化學(xué)工業(yè),食品工業(yè),BGA,PCB基板,電子芯片IC,半導(dǎo)體陶瓷制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品在環(huán)境溫度快速變化的條件下的適應(yīng)性測(cè)試(影響),適用 用于儀器,儀表,電工,電子產(chǎn)品,完整的機(jī)器和零件等,用于在溫度快速變化或逐漸變化,產(chǎn)品熱膨脹和收縮產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理?yè)p壞下的反復(fù)電阻。 它可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量。 從精密IC到重型機(jī)械,都不需要理想的測(cè)試工具。
冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備的應(yīng)用范圍:
1、主要測(cè)試材料對(duì)極高或極低溫度的抵抗力,這種情況類似于在高或低溫下不連續(xù)的情況。 冷熱沖擊測(cè)試可以使各種項(xiàng)目在短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。
2、由冷熱沖擊引起的變化或物理?yè)p壞是由熱膨脹和收縮的變化或其他物理值的變化引起的。 只有采用TS系統(tǒng),才能全信任各種產(chǎn)品。 冷熱沖擊的影響包括由產(chǎn)品開(kāi)裂或開(kāi)裂和移位引起的電化學(xué)變化。 TST系統(tǒng)的全數(shù)字自動(dòng)控制將使您易于操作和方便。
3、冷熱沖擊箱用于測(cè)試復(fù)合材料和材料結(jié)構(gòu),以及在極高溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下瞬間可以承受的程度,即在短的時(shí)間內(nèi)測(cè)試原因。 時(shí)間由熱膨脹和收縮引起的化學(xué)變化或物理?yè)p壞。